наша кнопка
|
 250 руб
| Перельман, Я.И. |
| Занимательная физика |
Серия: Занимательная наука
2007-2013 г.; Изд-во: М.: АСТ
|
| Одно из лучших классических пособий по физике. Хитрые головоломки, замысловатые вопросы, забавные задачи и парадоксы заинтересуют и помогут успешно освоить физику.
"Занимательная физика" написана ни много ни мало сто лет назад! Но благодаря тому, что ... |
 550 руб
| Эланго, М.А. |
| Элементарные неупругие радиационные процессы |
1988 г.; Изд-во: М.: Наука
|
| Изложено современное состояние вопросов, связанных с пониманием и простейшим количественным описанием механизмов процессов, которые определяют эффективность неупругого взаимодействия ионизирующих излучений с атомами, молекулами и твердыми телами и изме... |
 490 руб
| Шпольский, Э.В. |
| Атомная физика. В 2 томах |
1949-1950 г.; Изд-во: М.-Л.: Гостехиздат
|
| Первый том в основном посвящен экспериментальным основаниям ядерной теории атома и квантовой физики. Он заканчивается рассмотрением волновых свойств материи, а в последней главе, по примеру предыдущего издания устанавливается уравнение Шредингера и рас... |
350 руб
| Фишер, Р.; Нойман, Х. |
| Автоэлектронная эмиссия полупроводников |
Серия: Современные проблемы физики
1971 г.; Изд-во: М.: Наука
|
| Пер. с немецкого с дополненным обзором "Новое в исследовании автоэлектронной эмиссии полупроводников" Г.Н.Фурсея и О.И.Львова
В обзоре Р. Фишера и X. Ноймана изложены основы теории автоэмиссии полупроводников n-типа с учетом особенностей их зон- ной ... |
590 руб
| Васичев, Б.Н. |
| Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок |
1977 г.; Изд-во: М.: Металлургия
|
| Рассмотрена методика локального микроанализа элементного состава тонких объектов (пленок) и идентификации микрофаз вещества по характеристическим рентгеновским спектрам. Этот метод позволяет проводить комплексное изучение электронномикроскопических объ... |
590 руб
| Гороховатский, Ю.А. |
| Основы термодеполяризационного анализа |
1981 г.; Изд-во: М.: Наука
|
| В монографии в систематизированном виде рассматриваются теория явления термостимулированной деполяризации и основанный на этом явлении метод исследования электрофизических свойств диэлектриков, полупроводников, а также различных приборов и элементов ин... |
290 руб
| Дорфман, В.Ф. |
| Газофазная микрометаллургия полупроводников |
1974 г.; Изд-во: М.: Металлургия
|
| Анализируется современное состояние представлений о механизме кристаллизации полупроводников из газовой фазы. Рассматриваются термодинамические и кинетические условия процессов переноса в системах газофазной микрометаллургии, а также возможность примен... |
550 руб
| Клещук, В.Г. |
| Лекции по полупроводниковой СВЧ электронике |
1984 г.; Изд-во: Томск: ТГУ
|
| Книга представляет обработку лекций по полупроводниковым приборам СВЧ диапазона, читаемых студентам IV курса радиофизического факультета Томского университета. В ней рассмотрены физические принципы работы полупроводниковых приборов, которые в настоящее... |
290 руб
| Веретельник, В.И.; Сивов, Ю.А.; Хоружий, В.Д. |
| Банк задач по физике для поступающих в ТПУ |
2000 г.; Изд-во: Томск: ТПУ
|
| Представлен банк задач по физике для абитуриентов, использовавшийся при формировании билетов для вступительных экзаменов по физике в Томский политехнический университет. Пособие содержит 1224 задачи.
В банке задач представлены все разделы курса физик... |
1200 руб
| ред. Гудман, К. |
| Рост кристаллов. Том 1: Теория роста и методы выращивания кристаллов |
1977 г.; Изд-во: М.: Мир
|
| Книга представляет собой первый том серии коллективных монографий, цель которой - осветить ключевые проблемы роста и выращивания кристаллов. Эта область знания приобретает все большее значение для современной науки и техники, прежде всего для физики тв... |
320 руб
390 руб
| Гортышов, Ю.Ф.; Дресвянников, Ф.Н.; Идиатуллин, Н.С. и др. |
| Теория и техника теплофизического эксперимента |
1985 г.; Изд-во: М.: Энергоатомиздат
|
| Рассмотрены теоретические и методические аспекты экспериментальных исследований, в том числе и недостаточно представленные в литературе вопросы, касающиеся выбора измерительной аппаратуры и определения наивыгоднейших условий проведения эксперимента. Зн... |
|
|
wowik
RU/70)
