Серия: 6. Материалы. В 373 томах 1976 г.; Изд-во: М.: ЦНИИ "Электроника"
Рассмотрены возможности применения оптической металлографии, рентгеновской дифракционной топографии и электронной микроскопии для контроля качества исходных полупроводниковых материалов и приборов. Показано, что в настоящее время основным методом промы...
Содержание:
1. Общая организация структур управляющих МВС;
2. Организация памяти и внутрисистемных интерфейсов управляющих МВС;
3. Алгоритмы и структуры управления параллельным вычислительным процессом;
4. Однородные перестраиваемые решающие поля;
...
Книга подготовлена под руководством классика отечественной психологии мышления О.К.Тихомирова (1933-2001). Рассматриваются прихологические проблемы, связанные с созданием, совершенствованием и использованием систем искусственного интеллекта. Основное в...
50 руб
100 руб
RU/78)
