В книге изложены основные разделы физики полупроводников, освещены важнейшие области их применения и рассмотрены наиболее распространенные методы измерения параметров полупроводниковых материалов. Изложение почти всех вопро-сов проведено с точки зрения связи свойств материалов с ха-рактером и концентрацией различных дефектов в кристалле, т. е. с концентрацией примесей, дислокаций, вакансии и т. д. Приведены контрольные вопросы и задачи.
Дополнительно: ГРАЖДАНЕ ПОКУПАТЕЛИ! ПРЕЖДЕ, ЧЕМ ОФОРМЛЯТЬ ЗАКАЗ, ПРОЧТИТЕ УСЛОВИЯ!
Если вы особо чувствительны к состоянию книг, то прежде чем, оформлять заказ, выйдите на связь с продавцом, воспользовавшись функцией "СПРОСИТЬ" (только для зарегистрированных пользователей), поскольку ваше понимание "хорошего" и "отличного" может не совпадать с таковым пониманием продавца.
Встреча по договоренности происходит б... [подробнее]