Изложен комплекс вопросов, связанных с проверкой функциональной и параметрической исправности микропроцессорных БИС на производстве. Основное внимание уделено оригинальной методике построения тестов проверки функционирования схем. Описан тестовый параметрический контроль, гарантирующий необходимую помехоустойчивость микропроцессорных БИС. Приведены примеры построения тестов.
Дополнительно: Уважаемые покупатели на выкуп заказа отводиться семь дней с момента подтверждения наличия книги, по истечении данного срока заказ анулируется. При заказах на сумму более 5000 р. возможен прием оплаты от организаций по безналичному расчету.