Каталог: Техника и технология »•» Связь, электроника

	Дубовой, Н.Д.; Осокин, В.И.; Очков, А.С. и др. Измерения и контроль в микроэлектронике
	Издательство: М.: Высшая школа
	Переплет: твердый; 367 страниц; 1984 г.
	ISBN: [не указан]; Формат: стандартный
	Язык: русский
	На сайте с 26.08.2007

Аннотация

Пособие для студентов специальностей электронной техники. Главы: Измерение, контроль и испытания ИМС (интегральных микросхем). Основные понятия и опредения; Технология производства ИМС; Контрольно-измерительные операции при производстве ИМС; Методы измерения и контроля параметров технологических сред, полупроводниковых пластин, эпитаксиальных и полупроводниковых структур; Общие методы измерения и контроля электрических параметров ИМС, Технические (аппаратные) средства автоматических систем измерения и контроля электрических параметров ИМС; Программное обеспечение автоматических систем измерения и контроля электрических параметров ИМС; Методы контроля цифровых ИМС; Методы контроля аналоговых ИМС; Методы контроля ИМС ЦАП и АЦП; Примеры автоматического оборудования контроля ИМС. Схемы, графики, таблицы, формулы. Список литературы - 19 названий.

В продаже   Хочу купить

Продавец: pit_pit2 (Екатеринбург, RU/66 )   Состояние: хорошее; В продаже с 14.09.2024 Комментарий: хорошее состояние Условия доставки и оплаты Способы доставки: почтой по предоплате Способы оплаты: банковской картой	Цена 200 руб

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать