В книге рассмотрены подготовка аппаратуры и образцов к прямому исследованию в просвечивающем электронном микроскопе, работа оператора микроскопа и приемы анализа электронных микрофотографий и микроэлектронограмм. Детально показано применение понятия об обратной решетке в кристаллографических расчетах и при анализе дифракционных картин, методика фазового анализа, однозначного определения и уточнения ориентировки и разориентировки соседних микрообластей, ориентационных и габитусных соотношений кристаллов одной или разных фаз. Рассмотрены и проиллюстрированы примерами новые методические приемы, разработанные для повышения разрешения изображений дефектов, для анализа полей смещения у включений и т.д.
252 илл., 11 таблиц, 4 приложения.
Дополнительно: При заказе от 1500 р. отправка Почтой России бесплатно.
При заказе от 5000 р. разовая скидка 15% и отправка Почтой России бесплатно.
За пределы РФ книги не высылаю
Встречи по договоренности исключаются.