Каталог: Наука, образование »•» Технологии и инженерия

	Боуэн, Д.К.; Таннер, Б.К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография
	Издательство: СПб: Наука
	Переплет: твердый; 274 страниц; 2002 г.
	ISBN: 5-02-024963-7; Формат: увеличенный
	Язык: русский
	На сайте с 17.03.2005

Аннотация

В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материабцмцтлов электронной техники Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных и изображений дефектов в кристаллах, а вемийтакже современной технике исследований, включая использование сверхмощных источников синхротронного излучения Для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники

В продаже   Хочу купить

Продавец: AzY (Москва, RU/77 )   Состояние: отличное; В продаже с 21.08.2024 Комментарий: Потерты уголки переплета Условия доставки и оплаты Способы доставки: курьером; встреча по договоренности; самовывоз; почтой по предоплате Способы оплаты: наличными; перевод на банковский счет; почтовый перевод/перевод без открытия счета; банковской картой; электронный платеж (WM, Y.Д и т.п.) Дополнительно: ГРАЖДАНЕ ПОКУПАТЕЛИ! ПРЕЖДЕ, ЧЕМ ОФОРМЛЯТЬ ЗАКАЗ, ПРОЧТИТЕ УСЛОВИЯ! Если вы особо чувствительны к состоянию книг, то прежде чем, оформлять заказ, выйдите на связь с продавцом, воспользовавшись функцией "СПРОСИТЬ" (только для зарегистрированных пользователей), поскольку ваше понимание "хорошего" и "отличного" может не совпадать с таковым пониманием продавца. Встреча по договоренности происходит б... [подробнее]

Цена 3500 руб

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать