LibeX: Книжный интернет магазин. Продать книги. Купить книги

Магазин, где можно не только купить, но и продать книги

Каталог: Наука, образование »•» Технологии и инженерия

Глудкин, О.П.; Черняев, В.Н.: Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных схем

counter

Глудкин, О.П.; Черняев, В.Н.

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных схем

Издательство: М.: Энергия
Переплет: твердый; 360 страниц; 1980 г.
ISBN: [не указан]; Формат: стандартный
Язык: русский
На сайте с 20.04.2008

Аннотация

Приведены сведения по о с ношам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности.


 В продаже  Хочу купить
Продавец: Arventur отлично, более 100 оценок (Москва, RU/77 флаг)  
Состояние: индикатор состояния как новое; В продаже с 17.02.2024

Условия доставки и оплаты

Способы доставки: встреча по договоренности; почтой наложенным платежом; почтой по предоплате

Способы оплаты: наличными; почтовый перевод/перевод без открытия счета; банковской картой; электронный платеж (WM, Y.Д и т.п.)

Цена
129 руб


 Искать похожие 
> только название
> автор и название
 Добавить объявление
>продаю
> хочу купить



назад листать дальше
Первая помощь
>Впервые здесь?
>Как купить
>Как продать
>Зачем регистрироваться
>Платные услуги
еще ...
Поиск на LibeX
 
Название Автор 
расширенный поиск
Поиск на FindBook
findbook лого
 
Название Автор 
 Вход
 Имя:
 Пароль: 
 Запомнить пароль
регистрация
напомнить пароль





 
Индекс цитирования Яndex counter liveinternet.ru