Каталог: Наука, образование »•» Физика, астрономия

	Комолов, С.А. Интегральная вторично-электронная спектроскопия поверхности
	Издательство: Л.: ЛГУ
	Переплет: мягкий; 180 страниц; 1986 г.
	ISBN: [не указан]; Формат: стандартный
	Язык: русский
	На сайте с 26.03.2018

Аннотация

В монографии рассмотрены физические принципы экспериментальных методов вторично-электронной спектроскопии, основанные на анализе изменения интегральных токовых характеристик в зависимости от энергии первичных электронов. Всестороннее изучение поверхностных явлений стало возможным благодаря развитию в последние годы новых методов исследования и разработке приборов, позволяющих определисть состав вещества и его геометрическую и электронную структуры в поверхностных слоях толщиной 1-2 нм. К этим методам относится и низкоэнергетическая вторично-электронная спектроскопия, отличающаяся высокой поверхностной чувствительностью и отсутствием разрушающего воздействия на исследуемый образец. Получены аналитические соотношения, устанавливающие связь между формой спектров и структурной плотностью электронных состояний. Приведены результаты экспериментальных исследований энергетической структуры валентных и незаполненных электронных состояний, а также энергетической локализации внутренних уровней. Книга предназначена для преподавателей и аспирантов физических факультетов.

В продаже  Хочу купить

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать