Книга посвящена детальному анализу известных спектро-фотометрических методов, позволяющих определять дисперсию оптических констатнт тонких пленок на различных полупроводниковых подложках, исследовать особенности строения тонкопленочных полупроводниковых структур, измерять концентрацию, подвижность и эффективную массу носителей заряда в полупроводниковых слоях, изучать изменения в зонной структуре полупроводниковых слоев при фазовых переходах полупроводник-металл, исследовать явления на границе раздела фаз в тонкопленочных полупроводниковых структурах. Рассматриваются основные характеристики современных спектральных приборов и описываются практические приемы учета искажений, вносимых ими при регистрации спектров.
Дополнительно: При заказе от 1500 р. отправка Почтой России бесплатно.
При заказе от 5000 р. разовая скидка 15% и отправка Почтой России бесплатно.
За пределы РФ книги не высылаю
Встречи по договоренности исключаются.