Каталог: Техника и технология »•» Связь, электроника
|
[автор не указан]
Методы и средства контроля полупроводниковых и диэлектрических структур
Серия: Тезисы докладов конференций. Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания
|
| Издательство: М.: ЦНИИ "Электроника" |
| Переплет: мягкий; 68 страниц; 1986 г. |
| ISBN: [не указан]; Формат: стандартный |
| Язык: русский |
| На сайте с 03.11.2016 |
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже
|
 |
листать |
 |
|
|
