С единых позиций рассмотрены методология, а также методы и средства решения задач технической диагностики БИС одновременно для этапов проектировруания, производства и применения. Основное внимание уделено диагностическому обеспечению САПР проектирования КМОП матричных БИС, проблемам анализа и обеспечения их контролепригодности, самодиагностируемости и отказоустойчивости.
Для студентов высших учебных заведений.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже