В книге изложены основы эллипсометрии - прецизионного оптического метода исследования физико-химических процессов на поверхности твердых веществ.Приведены необходимые сведения по теории отражения поляризованного излучения на основе макроскопического и микроскопического подходов.Даны методика измерения эллипсометрических параметров исследуемой поверхности и основные методы решения обратной задачи эллипсометрии. Тираж 2326.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже