Каталог: Техника и технология »•» Связь, электроника

	Колчин, Г.С. Методы контроля и диагностики БИС ОЗУ Серия: Обзоры по электронно технике. Микроэлектроника
	Издательство: М.: ЦНИИ "Электроника"
	Переплет: мягкий; 28 страниц; 1986 г.
	ISBN: [не указан]; Формат: стандартный
	Язык: русский
	На сайте с 19.05.2011

Аннотация

Приводится классификация отказов и дефектов больших интегральных схем оперативных запоминающих устройств (БИС ОЗУ) с учетом современных возможностей технологии проектирования БИС. Анализируются существующие методы контроля БИС ОЗУ с точки зрения возможности сокращения времени контроля. Приведены методы диагностического контроля БИС ОЗУ.

В продаже  Хочу купить

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать