23 выпуск серии
Рассказывается о свойствах полупроводниковых диодов и транзисторов при их длительной работе и хранении. Описаны основные причины отказов приборов, связанные с явлениями на поверхности кристаллов, пробоем переходов, разрушением контактов. Приведены математические модели процессов отказов. Излагаются технические требования к качеству и надежности приборов, методы их проверки и обработки результатов испытаний. Даны сведения о ускоренных испытаниях и неразрушающем контроле качества. Приведены экспериментальные зависимости отказов и изменения величин параметров приборов от времени и нагрузки. Даны рекомендации по проектированию надежной аппаратуры на диодах и транзисторах.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже