Каталог: Наука, образование »•» Технологии и инженерия

	Глудкин, О.П.; Черняев, В.Н. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных схем
	Издательство: М.: Энергия
	Переплет: твердый; 360 страниц; 1980 г.
	ISBN: [не указан]; Формат: стандартный
	Язык: русский
	На сайте с 20.04.2008

Аннотация

Приведены сведения по о с ношам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны современная технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности.

В продаже   Хочу купить

Продавец: Arventur (Москва, RU/77 )   Состояние: как новое; В продаже с 17.02.2024 Условия доставки и оплаты Способы доставки: встреча по договоренности; почтой наложенным платежом; почтой по предоплате Способы оплаты: наличными; почтовый перевод/перевод без открытия счета; банковской картой; электронный платеж (WM, Y.Д и т.п.)	Цена 129 руб

Искать похожие  только название автор и название

Добавить объявление продаю хочу купить

листать