В книге рассмотрены количественные критерии и системы измерения шероховатости поверхности; изложены основы двухлучевой и многолучевой интерференции. В книге также приведены описания образцов шероховатости поверхности; даны конструкции интерференционных микроскопов, приборов, построенных по методу светового сечения и теневой проекции профиля, и др.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже