В сборнике содержатся задачи и упражнения по следующим разделам: микроскопические исследования в видимом свете; рентгенодифракционные методы исследования структуры полупроводниковых, диэлектрических и металлических материалов, электронно-оптические методы. Содержание: Глава 1. Основы математического аппарата структурного анализа. - Глава 2. Геометрия картин рассеяния коротковолновых излучений кристаллами. - Глава 3. Физика рентгеновских лучей. - Глава 4. Интегральный коэффициент отражения. - Глава 5. Методы рентгеноструктурного анализа. - Глава 6. Электронография и электронная микроскопия. - Глава 7. Определение количественных характеристик микроструктуры и толщины слоев. - Указания, решения, ответы. - Приложения. - Литература. Тираж 6000 экз. Вес 190 г.
В продаже
Хочу купить
сейчас этого издания книги в продаже нет
попробуйте поискать другие издания этого произведения при помощи ссылок ниже
или оставьте объявление о покупке или продаже